Обновленное ПО расширяет возможности системы параметрического тестирования S530 компании Keithley
Всеобъемлющая системная диагностика • Расширенные измерительные функции • Увеличенный корпус прибора
Москва, 28 января 2014 г. Компания Keithley Instruments, Inc., мировой лидер в сфере производства электронных контрольно-измерительных приборов и систем, представила обновленное программное обеспечение для своей популярной системы параметрического тестирования S530 – самого экономически эффективного решения для высокоскоростного параметрического тестирования в полупроводниковой промышленности. Достигнутые улучшения демонстрируют постоянное стремление компании Keithley к удовлетворению потребностей пользователей S530 в отношении удобства обслуживания системы, выполнения измерений, снижения эксплуатационных расходов, а также общего совершенствования параметрического тестирования. Дополнительную информацию можно найти в интернете по ссылке www.keithley.com/products/semiconductor/parametrictestsys/?mn=S530.
Источник: SKC
